物探方法應用(一)

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物探方法應用

金礦探測器

1鋅礦綜合物探找礦應用

該區地層為上三疊系的砂頁巖、白云巖、灰巖及凝灰巖,巖體附近的砂頁巖已變質為角礫巖。巖漿巖類型為黑云母花崗巖、花崗斑巖等。本區巖石露頭較少,浮土覆蓋范圍較廣,厚度約5lOm不等,地形起伏不大。附近民窿揭露出巖體兩側接觸帶,局部形成致密塊狀鋅礦體()。為了尋找巖體賦礦接觸帶,了解測區淺部地質分布特征,先投入視電阻率中間梯度法、自然電位法和激發極化法,圈定出平面上物探異常分布規律。然后,選取綜合異常清晰、異常幅度大的剖面線作為精測剖面,應用TEM法,圈出測區中深部范圍物性特征,并半定量解析地質體產狀、埋藏深度及頂部寬度等。

 

1是測區中梯視電阻率異常平面圖。供電極距AB=3600m,測量極距MN=20m,測量范圍區約為供電距AB中部1/3范圍。圖1可見視電阻率平面剖面圖中出現兩個低阻帶M1M2,M1低阻帶近南北向分布,1050號線剖面中MI的視電阻率最小數值在300500Ω·m,異常1/2寬度約為15m左右,反映淺部地質體呈低視電阻率現象,近南北向帶狀分布;M2異常帶沿北西向分布,視電阻率最小數值在350500Ω·m,反映淺部地質體呈低視電阻率現象,成北西向帶狀分布。具體地質體分布情況如圖4所示。

 

中間梯度視電阻率平面剖面圖

是自然電位法平面剖面圖。自然電位U異常分布特征與視電阻率中梯法的視電阻率形態特征大致相似,出現兩個低峰值負電位異常帶,電位幅值在-220-280mV之間,低電位異常反映淺部地質體具良導電性,且成帶狀分布。

2019年8月16日 00:52
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